《半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法》（GB/T 20521.12-2026）已由国家标准化管理部门正式发布。该标准于 2026-08-28 发布，2027-03-01 起实施。当前标准状态为「即将实施」。本页提供该国家标准的完整信息说明，全文 PDF 文件可通过下方链接获取。
标准基本信息
| 标准号 | GB/T 20521.12-2026 |
| 中文标准名称 | 半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法 |
| 英文标准名称 | Semiconductor devices—Part 14-12: Semiconductor sensors—Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors |
| 标准状态 | 即将实施 |
| 发布日期 | 2026-08-28 |
| 实施日期 | 2027-03-01 |
| 中国标准分类号（CCS） | L40 |
| 国际标准分类号（ICS） | 31.080.01 |
| 主管部门 | 工业和信息化部（电子） |
| 归口部门 | 工业和信息化部（电子） |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
标准全文获取说明
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资源信息
- 文件类型：PDF
- 共享日期：2026-08-28
下载地址
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